SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀
  | 特點(diǎn): 測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測定。 主要技術(shù)參數(shù): 熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃  測量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))                        ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))  溫度顯示zui小值:0.1℃ 熔點(diǎn)觀察方式: 雙目顯微鏡  光學(xué)放大倍數(shù) 40-100X  | 
 
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